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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1117/12.2184560

Multiplex acquisition approach for high speed 3D measurements with a chromatic confocal microscope

Taphanel, Miro; Zink, Ralf; Längle, Thomas; Beyerer, Jürgen



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-62841-685-5
ISSN: 0277-786X
KITopen-ID: 1000050010
Erschienen in Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IX, 22 - 25 June 2015, Munich, Germany. Ed.: P. Lehmann
Verlag SPIE Press, Bellingham (Wash.)
Seiten 95250Y
Serie Proceedings of SPIE ; 9525
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