Detecting the Morphology of SiO2 Aerosols using the Universal NanoParticle Analyzer (UNPA)

Wernet, R.; Gutsche, A.; Sachweh, B.; Kasper, G.; Seipenbusch, M.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Mechanische Verfahrenstechnik und Mechanik (MVM)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr	2012
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 1000050034
Erschienen in	European Aerosol Conference 2012, September 2-7, Granada, Spain