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Nanopartikelcharakterisierung mit dem einstufigen Niderdruckimpaktor

Weis, F.; Seipenbusch, M.; Kasper, G.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mechanische Verfahrenstechnik und Mechanik (MVM)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2012
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 1000050127
Erschienen in Fachausschuss Partikelmesstechnik, February 28-29, 2012, Bad Dürkheim
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