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Untersuchung von Metallnanopartikeln mittels der Röntgenklein- und –weitwinkelstreuung

Guo, X.; Gutsche, A.; Hontanon, E.; Kruis, E.; Nirschl, H.


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000050141
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mechanische Verfahrenstechnik und Mechanik (MVM)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2013
Sprache Deutsch
Identifikator urn:nbn:de:swb:90-501415
KITopen-ID: 1000050141
Erschienen in ProcessNet 2013-Gasreinigung und Partikelmesstechnik. 6.-.7.3. 2013, Cottbus
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