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Untersuchung von Metallnanopartikeln mittels der Röntgenklein- und –weitwinkelstreuung

Guo, X.; Gutsche, A.; Hontanon, E.; Kruis, E.; Nirschl, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mechanische Verfahrenstechnik und Mechanik (MVM)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2013
Sprache Deutsch
Identifikator URN: urn:nbn:de:swb:90-501415
KITopen ID: 1000050141
Erschienen in ProcessNet 2013-Gasreinigung und Partikelmesstechnik. 6.-.7.3. 2013, Cottbus
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