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Die Röntgenkleinwinkelstreuung als Charakterisierungsmethode bei der Herstellung von Nanopartikeln

Gutsche, Alexander; Guo, Xiaoai; Nirschl, Hermann

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Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000050142
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Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mechanische Verfahrenstechnik und Mechanik (MVM)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2013
Sprache Deutsch
Identifikator urn:nbn:de:swb:90-501427
KITopen-ID: 1000050142
Erschienen in Process Net 2013-Gasreinigung und Partikelmesstechnik. 6.3.-7.3. 2013, Cottbus
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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