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A New Small- and Wide-angle X-ray Scattering Measuring System for Characterization of Nanostructured Particles Synthesized by Electrical Discharges in the Inert Gas

Guo, X.; Gutsche, A.; Hontanon, E.; Stein, M.; Kruis, F. E.; Nirschl, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mechanische Verfahrenstechnik und Mechanik (MVM)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 1000050572
Erschienen in The 7th World Congress on Particle Technology (WCPT7), May 19-22, 2014, Beijing, China
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