A New Small- and Wide-angle X-ray Scattering Measuring System for Characterization of Nanostructured Particles Synthesized by Electrical Discharges in the Inert Gas

Guo, X.; Gutsche, A.; Hontanon, E.; Stein, M.; Kruis, F. E.; Nirschl, H.

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seit 12.05.2018

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Mechanische Verfahrenstechnik und Mechanik (MVM)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr	2014
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 1000050572
Erschienen in	The 7th World Congress on Particle Technology (WCPT7), May 19-22, 2014, Beijing, China