KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Erzeugung und Charakterisierung von SiO2 Oberflächenfraktalen

Gutsche, A.; Guo, X.; Nirschl, H.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mechanische Verfahrenstechnik und Mechanik (MVM)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2014
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 1000050573
Erschienen in ProcessNet2014-Partikelmesstechnik und Grenzflächenbestimmte Systeme und Prozesse, April 1-2, 2014, Würzburg
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page