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Erzeugung und Charakterisierung von SiO2 Oberflächenfraktalen

Gutsche, A.; Guo, X.; Nirschl, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mechanische Verfahrenstechnik und Mechanik (MVM)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2014
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 1000050573
Erschienen in ProcessNet2014-Partikelmesstechnik und Grenzflächenbestimmte Systeme und Prozesse, April 1-2, 2014, Würzburg
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