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Synthetic image acquisition and procedural modeling for automated optical inspection (AOI) systems

Retzlaff, Max-Gerd; Stabenow, Josua; Dachsbacher, Carsten



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Visualisierung und Datenanalyse (IVD)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-7315-0284-5
URN: urn:nbn:de:swb:90-507419
KITopen ID: 1000050741
Erschienen in Forum Bildverarbeitung 2014. Hrsg.: F. Puente León
Verlag KIT Scientific Publishing, Karlsruhe
Seiten 47-58
URLs Gesamtwerk
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