Synthetic image acquisition and procedural modeling for automated optical inspection (AOI) systems
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Visualisierung und Datenanalyse (IVD) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 2014 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-3-7315-0284-5 urn:nbn:de:swb:90-507419 KITopen-ID: 1000050741 |
| Erschienen in | Forum Bildverarbeitung 2014. Hrsg.: F. Puente León |
| Verlag | KIT Scientific Publishing |
| Seiten | 47-58 |
| Relationen in KITopen |