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Mehrdimensionale Merkmale zur Augendetektion

Vater, Sebastian; Puente León, Fernando

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Volltext §
DOI: 10.5445/KSP/1000043608
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 2014
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 978-3-7315-0284-5
urn:nbn:de:swb:90-507434
KITopen-ID: 1000050743
Erschienen in Forum Bildverarbeitung 2014. Hrsg.: F. Puente León
Verlag KIT Scientific Publishing, Karlsruhe
Seiten 119-128
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