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Voraussetzungen für den Einsatz von Big Data und RFID zur SC-Risiko-Abmilderung

Weissenberger-Eibl, Marion A.; Koch, Daniel Jeffrey



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Entrepreneurship, Technologie-Management und Innovation (ENTECHNON)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 2015
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 978-3-503-15818-8
KITopen ID: 1000050753
Erschienen in Risikomanagement in Supply Chains : Gefahren abwehren, Chancen nutzen, Erfolg generieren. Hrsg.: C. Siepermann
Auflage 2., neu bearb. Aufl.
Verlag Schmidt, Berlin
Seiten 353-378
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