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Probing the Absolute Scattering Intensity by means of a Lab-based SAXS Camera Using an Imaging Plate Detector

Gutsche, A.; Dingenouts, N.; Guo, X.; Meier, M.; Nirschl, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mechanische Verfahrenstechnik und Mechanik (MVM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1107/s1600576715021469
ISSN: 1600-5767
KITopen ID: 1000051271
Erschienen in Journal of Applied Crystallography
Band 49
Heft 1
Seiten 15-23
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