Probing the Absolute Scattering Intensity by means of a Lab-based SAXS Camera Using an Imaging Plate Detector
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mechanische Verfahrenstechnik und Mechanik (MVM) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2016 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1600-5767 KITopen-ID: 1000051271 |
| Erschienen in | Journal of Applied Crystallography |
| Verlag | International Union of Crystallography |
| Band | 49 |
| Heft | 1 |
| Seiten | 15-23 |
| Nachgewiesen in | OpenAlex Scopus Dimensions Web of Science |