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Determination of Absolute Scattering Intensities Using a Lab-scale SAXS Camera

Gutsche, A.; Guo, X.; Dingenouts, N.; Nirschl, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mechanische Verfahrenstechnik und Mechanik (MVM)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 1000051278
Erschienen in SAS2015 : 16th International Conference on Small-Angle Scattering, 13th - 18th Sept. 2015, Berlin
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