Combining Unit Tests for Data Race Detection
Schimmel, Jochen 1; Molitorisz, Korbinian 1; Jannesari, Ali; Tichy, Walter F.
1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
11 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Programmstrukturen und Datenorganisation (IPD) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2015 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-4673-7022-6 KITopen-ID: 1000051691 |
| Erschienen in | 10th IEEE/ACM International Workshop on Automation of Software Test (AST 2015), 23 May 2015 through 24 May 2015, Florence, Italy |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 43-47 |
| Nachgewiesen in | OpenAlex Scopus Dimensions |