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Combining Unit Tests for Data Race Detection

Schimmel, Jochen; Molitorisz, Korbinian; Jannesari, Ali; Tichy, Walter F.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Programmstrukturen und Datenorganisation (IPD)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1109/AST.2015.16
ISBN: 978-1-4673-7022-6
KITopen ID: 1000051691
Erschienen in 10th IEEE/ACM International Workshop on Automation of Software Test (AST 2015), 23 May 2015 through 24 May 2015, Florence, Italy
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 43-47
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