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An APT investigation of an amorphous Cr-B-C thin film

Boll, T.; Thuvander, M.; Koch, S.; Wagner, J.N.; Nedfors, N.; Jansson, U.; Stiller, K.



Zugehörige Institution(en) am KIT Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF)
Institut für Angewandte Materialien - Werkstoffkunde (IAM-WK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0304-3991, 1879-2723
KITopen ID: 1000051833
HGF-Programm 49.02; LK 02
Erschienen in Ultramicroscopy
Band 159
Heft 2
Seiten 217-222
Bemerkung zur Veröffentlichung 1st International Conference on Atom Probe Tomography \& Microscopy
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