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Measurement of Length and Position with Frequency Combs

Weimann, Claudius 1,2; Hoeller, F.; Schleitzer, Y.; Diez, C. A.; Spruck, B.; Freude, W. 2; Boeck, Y.; Koos, C. 1,2
1 Institut für Photonik und Quantenelektronik (IPQ), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000051934
Veröffentlicht am 06.04.2018
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1088/1742-6596/605/1/012030
Scopus
Zitationen: 13
Dimensions
Zitationen: 12
BibTeX (UTF-8) BibTeX (ASCII) EndNote/Refer (.enw) RIS CSL-JSON ISI
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Institut für Photonik und Quantenelektronik (IPQ)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1742-6588, 1742-6596
urn:nbn:de:swb:90-519340
KITopen-ID: 1000051934
HGF-Programm 43.23.03 (POF III, LK 01) Teratronics
Erschienen in Journal of physics / Conference Series
Verlag Institute of Physics Publishing Ltd (IOP Publishing Ltd)
Band 605
Heft 1
Seiten Art.Nr. 012030
Nachgewiesen in OpenAlex
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