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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1088/1742-6596/605/1/012030

Measurement of Length and Position with Frequency Combs

Weimann, Claudius; Hoeller, F.S.; Schleitzer, Y.; Diez, C.A.; Spruck, B.; Freude, W.; Boeck, Y.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Institut für Photonik und Quantenelektronik (IPQ)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1742-6588
KITopen ID: 1000051934
HGF-Programm 43.23.03; LK 01
Erschienen in Journal of Physics: Conference Series
Band 605
Heft 1
Seiten Art.Nr.: 012030
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