Measurement of Length and Position with Frequency Combs

Weimann, Claudius; Hoeller, F.; Schleitzer, Y.; Diez, C. A.; Spruck, B.; Freude, W.; Boeck, Y.; Koos, C.

doi:10.1088/1742-6596/605/1/012030

Measurement of Length and Position with Frequency Combs

Weimann, Claudius ¹^,2; Hoeller, F.; Schleitzer, Y.; Diez, C. A.; Spruck, B.; Freude, W. ²; Boeck, Y.; Koos, C. ¹^,2
¹ Institut für Photonik und Quantenelektronik (IPQ), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
² Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) Institut für Photonik und Quantenelektronik (IPQ)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	2015
Sprache	Englisch
Identifikator	ISSN: 1742-6588, 1742-6596 urn:nbn:de:swb:90-519340 KITopen-ID: 1000051934
HGF-Programm	43.23.03 (POF III, LK 01) Teratronics
Erschienen in	Journal of physics / Conference Series
Verlag	Institute of Physics Publishing Ltd (IOP Publishing Ltd)
Band	605
Heft	1
Seiten	Art.Nr. 012030
Nachgewiesen in	Dimensions Scopus

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DOI: 10.5445/IR/1000051934

Veröffentlicht am 06.04.2018

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