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Layout-based Modeling and Mitigation of Multiple Event Transients

Ebrahimi, M.; Asadi, H.; Bishnoi, R.; Tahoori, M.B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1109/TCAD.2015.2459053
ISSN: 0278-0070
KITopen ID: 1000052461
Erschienen in IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
Band 35
Heft 3
Seiten 367-379
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