Stepped Parity: A Low-cost Multiple Bit Upset Detection Technique
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2015 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-4673-6579-6 KITopen-ID: 1000052463 |
| Erschienen in | IEEE International Test Conference (ITC), 2015, Anaheim, CA, 6-8 Oct. 2015 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 1-8 |
| Nachgewiesen in | Dimensions |