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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TEST.2015.7342410

Stepped Parity: A Low-cost Multiple Bit Upset Detection Technique

Ebrahimi, M.; Tahoori, M.B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4673-6579-6
KITopen ID: 1000052463
Erschienen in IEEE International Test Conference (ITC), 2015, Anaheim, CA, 6-8 Oct. 2015
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 1-8
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