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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/ICCAD.2015.7372549

Fine-Grained Aging Prediction Based on the Monitoring of Run-Time Stress Using DfT Infrastructure

Koneru, A.; Vijayan, A.; Chakrabarty, K.; Tahoori, Mehdi B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4673-8389-9
KITopen ID: 1000052466
Erschienen in ICCAD '15 Proceedings of the IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design, Austin, TX, USA, 2-6 Nov. 2015
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 51-58
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