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Fault Injection Acceleration by Architectural Importance Sampling

Ebrahimi, M.; Sayed, N.; Rashvand, M.; Tahoori, Mehdi B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4673-8321-9
KITopen ID: 1000052470
Erschienen in Proceedings of the 10th International Conference on Hardware/Software Codesign and System Synthesis (CODES+ISSS) October 4-9, 2015, Amsterdam, The Netherlands
Verlag ACM, New York (NY)
Seiten 212-219
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