Resiliency Challenges in sub-10nm Technologies
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2015 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-4799-7597-6 KITopen-ID: 1000052473 |
| Erschienen in | 2015 IEEE 33rd VLSI Test Symposium (VTS) : 27 - 29 April 2015, Napa, California (USA) |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | Art. Nr.: 7116281 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |