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Aging Guardband Reduction through Selective Flip-Flop Optimization

Golanbari, M. S. 1; Kiamehr, S. 1; Ebrahimi, M. 1; Tahoori, M. B. 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/ETS.2015.7138775
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Zitationen: 11
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Zitationen: 11
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4799-7603-4
KITopen-ID: 1000052474
Erschienen in Proceedings of the 20th IEEE European Test Symposium, ETS 2014; Cluj-Napoca; Romania; 25 May 2015 through 29 May 2015
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 1-6
Nachgewiesen in Dimensions
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