Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
Publikationsjahr | 2015 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | ISBN: 978-1-4799-7603-4 KITopen-ID: 1000052474 |
Erschienen in | Proceedings of the 20th IEEE European Test Symposium, ETS 2014; Cluj-Napoca; Romania; 25 May 2015 through 29 May 2015 |
Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
Seiten | 1-6 |
Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |