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Protecting Caches Against Multiple Bit Upsets Using Embedded Erasure Coding

Banaiyan Mofrad, A.; Ebrahimi, M. 1; Oboril, F. 1; Tahoori, M. B. 1; Dutt, N.
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/ETS.2015.7138735
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Zitationen: 6
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Zitationen: 7
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4799-7603-4
KITopen-ID: 1000052475
Erschienen in Proceedings - 2015 20th IEEE European Test Symposium, ETS 2014, Cluj-Napoca; Romania; 25 May 2015 through 29 May 2015
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten Art.Nr.: 7138735
Nachgewiesen in Dimensions
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