Re-using BIST for Circuit Aging Monitoring
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2015 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-4799-7603-4 KITopen-ID: 1000052477 |
| Erschienen in | Proceedings - 2015 20th IEEE European Test Symposium, ETS 2014, Cluj-Napoca; Romania; 25 May 2015 through 29 May 2015 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | Art.Nr.: 7138768 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |