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Resilient Flip-Flop Design under Process and Runtime Variations

Golanbari, M. S.; Kiamehr, S.; Tahoori, Mehdi B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 1000052483
Erschienen in The 11th Workshop on Silicon Errors in Logic - System Effects (SELSE), 2015, Austin, United States, 31 Mar - 01 Apr 2015
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