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On the role of inelastic scattering in phase-plate transmission electron microscopy

Hettler, S.; Wagner, J.; Dries, M.; Oster, M.; Wacker, C.; Schröder, R.R.; Gerthsen, D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0304-3991
KITopen ID: 1000052516
Erschienen in Ultramicroscopy
Band 155
Seiten 27-41
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