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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.surfcoat.2015.07.030
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Angle-resolved X-ray reflectivity measurements during off-normal sputter deposition of VN

Krause, B.; Kaufholz, M.; Kotapati, S.; Schneider, R.; Müller, E.; Gerthsen, D.; Wochner, P.; Baumbach, T.



Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Applikationen der Synchrotronstrahlung (LAS)
Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS)
ANKA - die Synchrotronstrahlungsquelle am KIT (ANKA)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0257-8972
KITopen ID: 1000052519
HGF-Programm 55.51.10; LK 02
Erschienen in Surface and Coatings Technology
Band 277
Seiten 52 - 57
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