Optical properties of defects in nitride semiconductors
Tischer, I.; Hocker, M.; Neuschl, B.; Madel, M.; Feneberg, M.; Schirra, M.; Frey, M.; Knab, M.; Maier, P.; Wunderer, T.; Leute, R.; Wang, J.; Scholz, F.; Biskupek, J.; Bernhard, J.; Kaiser, U.; Simon, U.; Dieterle, L. 1; Groiss, H. 1;
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2015 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0884-2914 KITopen-ID: 1000052522 |
| Erschienen in | Journal of Materials Research |
| Verlag | Cambridge University Press (CUP) |
| Band | 30 |
| Heft | 20 |
| Seiten | 2977 - 2990 |
| Nachgewiesen in | Web of Science Scopus Dimensions |