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Optical properties of defects in nitride semiconductors

Tischer, I.; Hocker, M.; Neuschl, B.; Madel, M.; Feneberg, M.; Schirra, M.; Frey, M.; Knab, M.; Maier, P.; Wunderer, T.; Leute, R.; Wang, J.; Scholz, F.; Biskupek, J.; Bernhard, J.; Kaiser, U.; Simon, U.; Dieterle, L. 1; Groiss, H. 1; ... mehr


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1557/jmr.2015.273
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Zitationen: 7
Web of Science
Zitationen: 6
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Zitationen: 6
Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0884-2914
KITopen-ID: 1000052522
Erschienen in Journal of Materials Research
Verlag Cambridge University Press (CUP)
Band 30
Heft 20
Seiten 2977 - 2990
Nachgewiesen in Web of Science
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