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Optical properties of defects in nitride semiconductors

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Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0884-2914
KITopen ID: 1000052522
Erschienen in Journal of Materials Research
Band 30
Heft 20
Seiten 2977 - 2990
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