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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1088/0957-4484/26/48/485702
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Zitationen: 2

Atomic structure and composition distribution in wetting layers and islands of germanium grown on silicon (001) substrates

Brehm, M.; Groiss, H.; Bauer, G.; Gerthsen, D.; Clarke, R.; Paltiel, Y.; Yacoby,Y.



Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0957-4484
KITopen ID: 1000052523
Erschienen in Nanotechnology
Band 26
Heft 48
Seiten 485701
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