Reliability Degradation in the Scope of Aging – From Physical to System Level
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2015 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-4673-9994-4 KITopen-ID: 1000052680 |
| Erschienen in | Proceeding of 2015 10th International Design & Test Symposium (IDT), Amman, Jordanien, December 14-16, 2015 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 9-12 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions |