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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/IDT.2015.7396727
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Zitationen: 1

Reliability Degradation in the Scope of Aging – From Physical to System Level

Amrouch, Hussam; Henkel, Jörg



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4673-9994-4
KITopen ID: 1000052680
Erschienen in Proceeding of 2015 10th International Design & Test Symposium (IDT), Amman, Jordanien, December 14-16, 2015
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 9-12
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