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SEI Growth and Depth Profiling on ZFO Electrodes by Soft X-Ray Absorption Spectroscopy

Di Cicco, Andrea; Giglia, Angelo; Gunnella, Roberto; Koch, Stephan L.; Müller, Franziska; Nobili, Francesco; Pasqualini, Marta; Passerini, Stefano; Tossici, Roberto; Witkowska, Agnieszka

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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1002/aenm.201500642
Scopus
Zitationen: 13
Web of Science
Zitationen: 12
Zugehörige Institution(en) am KIT Helmholtz-Institut Ulm (HIU)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1614-6832, 1614-6840
KITopen-ID: 1000052762
HGF-Programm 37.01.01 (POF III, LK 01)
Erschienen in Advanced energy materials
Band 5
Heft 18
Seiten Art.Nr. 1500642
Nachgewiesen in Web of Science
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