SEI Growth and Depth Profiling on ZFO Electrodes by Soft X-Ray Absorption Spectroscopy
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Helmholtz-Institut Ulm (HIU) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2015 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1614-6832, 1614-6840 KITopen-ID: 1000052762 |
| HGF-Programm | 37.01.01 (POF III, LK 01) Fundamentals and Materials |
| Erschienen in | Advanced energy materials |
| Verlag | Wiley-VCH Verlag |
| Band | 5 |
| Heft | 18 |
| Seiten | Art.Nr. 1500642 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus Web of Science |