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SEI Growth and Depth Profiling on ZFO Electrodes by Soft X-Ray Absorption Spectroscopy

Di Cicco, Andrea; Giglia, Angelo; Gunnella, Roberto; Koch, Stephan L. 1; Müller, Franziska 1; Nobili, Francesco; Pasqualini, Marta; Passerini, Stefano 1; Tossici, Roberto; Witkowska, Agnieszka
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1002/aenm.201500642
Scopus
Zitationen: 34
Web of Science
Zitationen: 32
Dimensions
Zitationen: 37
Zugehörige Institution(en) am KIT Helmholtz-Institut Ulm (HIU)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1614-6832, 1614-6840
KITopen-ID: 1000052762
HGF-Programm 37.01.01 (POF III, LK 01) Fundamentals and Materials
Erschienen in Advanced energy materials
Verlag Wiley-VCH Verlag
Band 5
Heft 18
Seiten Art.Nr. 1500642
Nachgewiesen in Dimensions
Web of Science
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Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung Ziel 7 – Bezahlbare und saubere Energie
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