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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1145/2840000/2830849

dsReliM: Power-Constrained Reliability Management in Dark-Silicon Many-Core Chips under Process Variations

Salehi, Mohammad; Shafique, Muhammad; Kriebel, Florian; Rehman, Semeen; Khavari Tavana, Mohammad; Ejlali, Alireza; Henkel, Jörg



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4673-8321-9
KITopen ID: 1000052819
Erschienen in Proceedings of the 10th International Conference on Hardware/Software Codesign and System Synthesis (CODES+ISSS) October 4-9, 2015, Amsterdam, The Netherlands; Digest of Technical Papers. Ed.: G. Nicolescu
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 75-82
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