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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/ISLPED.2015.7273518

DRVS: Power-Efficient Reliability Management through Dynamic Redundancy and Voltage Scaling under Variations

Salehi, Mohammad; Tavana, Mohammad Khavari; Rehman, Semeen; Kriebel, Florian; Shafique, Muhammad; Ejlali, Alireza; Henkel, Jörg



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4673-8008-9
KITopen-ID: 1000052823
Erschienen in IEEE/ACM International Symposium on Low Power Electronics and Design (ISLPED), 2015 22-24 July, Rome, Italy
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 225-230
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