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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/IRPS.2015.7112711
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Zitationen: 14

Connecting the Physical and Application Level Towards Grasping Aging Effects

Amrouch, H.; Martin-Martinez, J.; van Santen, V. M.; Moras, M.; Rodriguez, R.; Nafria, M.; Henkel, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4673-7363-0
ISSN: 1541-7026
KITopen ID: 1000052920
Erschienen in IEEE International Reliability Physics Symposium, IRPS 2015; Monterey; United States; 19 April 2015 through 23 April 2015
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 3D11-3D18
Serie IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings ; 2015 /July
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