Connecting the Physical and Application Level Towards Grasping Aging Effects
Amrouch, H. 1; Martin-Martinez, J.; Santen, V. M. van
; Moras, M.; Rodriguez, R.; Nafria, M.; Henkel, J. 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
; Moras, M.; Rodriguez, R.; Nafria, M.; Henkel, J. 11 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2015 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-4673-7363-0 ISSN: 1541-7026 KITopen-ID: 1000052920 |
| Erschienen in | IEEE International Reliability Physics Symposium, IRPS 2015; Monterey; United States; 19 April 2015 through 23 April 2015 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 3D11-3D18 |
| Serie | IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings ; 2015 /July |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |