Variability-Aware Dark Silicon Management in On-Chip Many-Core Systems
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2015 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-3-9815-3705-5 ISSN: 1530-1591 KITopen-ID: 1000052925 |
| Erschienen in | Proceedings of the 2015 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE) |
| Veranstaltung | Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition (DATE 2015), Grenoble, Frankreich, 09.03.2015 – 13.03.2015 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 387-392 |
| Serie | Proceedings -Design, Automation and Test in Europe, DATE |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions |