ACSEM: Accuracy-Configurable Fast Soft Error Masking Analysis in Combinatorial Circuits

Kriebel, F. ¹; Rehman, S. ¹; Sun, D. ¹; Aceituno, P. V. ¹; Shafique, M. ¹; Henkel, J. ¹
¹ Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

Scopus
Zitationen: 10

Seitenaufrufe: 39
seit 18.05.2018

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr	2015
Sprache	Englisch
Identifikator	ISBN: 978-1-4799-6404-8 ISSN: 1530-1591 KITopen-ID: 1000052926
Erschienen in	2015 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE 2015) : Grenoble, France, 9 - 13 March 2015
Verlag	Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten	824-829
Serie	Proceedings -Design, Automation and Test in Europe, DATE
Nachgewiesen in	Scopus