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Zitationen: 4

ACSEM: Accuracy-Configurable Fast Soft Error Masking Analysis in Combinatorial Circuits

Kriebel, F.,; Rehman, S.; Sun, D.; Aceituno, P.V.; Shafique, M.; Henkel, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4799-6404-8
ISSN: 1530-1591
KITopen ID: 1000052926
Erschienen in 2015 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE 2015) : Grenoble, France, 9 - 13 March 2015
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 824-829
Serie Proceedings -Design, Automation and Test in Europe, DATE
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