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Malleable NoC: Dark Silicon Inspired Adaptable Network on Chip

Bokhari, H.; Javaid, H.; Shafique, M.; Henkel, J.; Parameswaran, S.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4799-6404-8
ISSN: 1530-1591
KITopen ID: 1000052934
Erschienen in 2015 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE 2015) : Grenoble, France, 9 - 13 March 2015
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 1245-1248
Serie Proceedings -Design, Automation and Test in Europe, DATE
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