Malleable NoC: Dark Silicon Inspired Adaptable Network on Chip
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2015 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-4799-6404-8 ISSN: 1530-1591 KITopen-ID: 1000052934 |
| Erschienen in | 2015 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE 2015) : Grenoble, France, 9 - 13 March 2015 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 1245-1248 |
| Serie | Proceedings -Design, Automation and Test in Europe, DATE |
| Nachgewiesen in | Scopus |