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Synthesizing images using parameterized models for automated optical inspection (AOI)

Retzlaff, Max-Gerd 1; Stabenow, Josua 1; Beyerer, Jürgen 2; Dachsbacher, Carsten 1
1 Institut für Visualisierung und Datenanalyse (IVD), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1515/teme-2014-0041
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Zitationen: 5
Dimensions
Zitationen: 4
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Visualisierung und Datenanalyse (IVD)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0171-8096
KITopen-ID: 1000053193
Erschienen in Technisches Messen
Verlag De Gruyter
Band 82
Heft 5
Seiten 251-261
Nachgewiesen in Dimensions
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