Synthesizing images using parameterized models for automated optical inspection (AOI)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Visualisierung und Datenanalyse (IVD) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2015 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0171-8096 KITopen-ID: 1000053193 |
| Erschienen in | Technisches Messen |
| Verlag | De Gruyter |
| Band | 82 |
| Heft | 5 |
| Seiten | 251-261 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions Web of Science |