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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1515/teme-2014-0041
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Synthesizing images using parameterized models for automated optical inspection (AOI)

Retzlaff, Max-Gerd; Stabenow, Josua; Beyerer, Jürgen; Dachsbacher, Carsten



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Visualisierung und Datenanalyse (IVD)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0171-8096
KITopen ID: 1000053193
Erschienen in Technisches Messen
Band 82
Heft 5
Seiten 251-261
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