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Height control for small periodic structures using x-ray radiography

Schüttler, M. 1; Meyer, P. 1; Schaff, F.; Yaroshenko, A.; Kunka, D. 1; Besser, H. 2; Pfeiffer, F.; Mohr, J. 1
1 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1088/0957-0233/27/2/025015
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Zitationen: 2
Dimensions
Zitationen: 2
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien – Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP)
Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0022-3735, 0368-4253, 0368-4261, 0950-1290, 0950-7671, 0957-0233, 1361-6501
KITopen-ID: 1000053249
HGF-Programm 43.23.02 (POF III, LK 01) X-Ray Optics
Erschienen in Measurement science and technology
Verlag Institute of Physics Publishing Ltd (IOP Publishing Ltd)
Band 27
Heft 2
Seiten 025015
Nachgewiesen in Dimensions
Web of Science
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