Robust high-resolution imaging and quantitative force measurement with tuned-oscillator atomic force microscopy
Dagdeviren, O. E.; Götzen, J.; Hölscher, H.
1; Altman, E. I.; Schwarz, U. D.
1 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Altman, E. I.; Schwarz, U. D.1 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2016 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0957-4484 KITopen-ID: 1000053259 |
| HGF-Programm | 43.22.01 (POF III, LK 01) Functionality by Design |
| Erschienen in | Nanotechnology |
| Verlag | Institute of Physics Publishing Ltd (IOP Publishing Ltd) |
| Band | 27 |
| Heft | 6 |
| Seiten | 065703 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions Web of Science |