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Robust high-resolution imaging and quantitative force measurement with tuned-oscillator atomic force microscopy

Dagdeviren, O.E.; Götzen, J.; Hölscher, H.; Altman, E.I.; Schwarz, U.D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1088/0957-4484/27/6/065703
ISSN: 0957-4484
KITopen ID: 1000053259
HGF-Programm 43.22.01; LK 01
Erschienen in Nanotechnology
Band 27
Heft 6
Seiten 065703
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