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Phonon Emission Induced Dynamic Fracture Phenomena

Atrash, Fouad; Hashibon, Adham; Gumbsch, P; Sherman, Dov



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Computational Materials Science (IAM-CMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1103/PhysRevLett.106.085502
ISSN: 0031-9007
KITopen ID: 1000053365
Erschienen in Physical Review Letters
Band 106
Heft 8
Seiten 085502
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