Soft x-ray emission spectroscopy studies of the electronic structure of silicon supersaturated with sulfur
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Chemie und Polymerchemie (ITCP) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2011 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0003-6951 KITopen-ID: 1000053496 |
| Erschienen in | Applied Physics Letters |
| Verlag | American Institute of Physics (AIP) |
| Band | 99 |
| Heft | 14 |
| Seiten | 142102 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus Web of Science |