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Soft x-ray emission spectroscopy studies of the electronic structure of silicon supersaturated with sulfur

Sullivan, J.T.; Wilks, R.G.; Winkler, M.T.; Weinhardt, L.; Recht, D.; Said, A.J.; Newman, B.K.; Zhang, Y.; Blum, M.; Krause, S.; Yang, W.L.; Heske, C.; Aziz, M.J.; Br, M.; Buonassisi, T.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.3643050
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Zitationen: 15
Web of Science
Zitationen: 17
Dimensions
Zitationen: 18
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Chemie und Polymerchemie (ITCP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0003-6951
KITopen-ID: 1000053496
Erschienen in Applied Physics Letters
Verlag American Institute of Physics (AIP)
Band 99
Heft 14
Seiten 142102
Nachgewiesen in Dimensions
Web of Science
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