Soft x-ray emission spectroscopy studies of the electronic structure of silicon supersaturated with sulfur
Sullivan, J. T.; Wilks, R. G.; Winkler, M. T.; Weinhardt, L.; Recht, D.; Said, A. J.; Newman, B. K.; Zhang, Y.; Blum, M.; Krause, S.; Yang, W. L.; Heske, C.
; Aziz, M. J.; Br, M.; Buonassisi, T.
; Aziz, M. J.; Br, M.; Buonassisi, T.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Chemie und Polymerchemie (ITCP) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2011 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0003-6951 KITopen-ID: 1000053496 |
| Erschienen in | Applied Physics Letters |
| Verlag | American Institute of Physics (AIP) |
| Band | 99 |
| Heft | 14 |
| Seiten | 142102 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Web of Science Scopus |