Detection and visual inspection of highly obfuscated plagiarisms
Schmidt, Andreas
; Bühler, Sören; Senger, Robert; Scholz, Steffen
; Dickerhof, Markus
; Bühler, Sören; Senger, Robert; Scholz, Steffen
; Dickerhof, Markus| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Informatik (IAI) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2016 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000053921 |
| HGF-Programm | 43.22.03 (POF III, LK 01) Printed Materials and Systems |
| Veranstaltung | 49th Hawaii International Conference on System Sciences (HICSS-49), Kauai, Hawaii, January 5-8, 2016 |