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Detection and visual inspection of highly obfuscated plagiarisms

Schmidt, Andreas; Bühler, Sören; Senger, Robert; Scholz, Steffen; Dickerhof, Markus



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Informatik (IAI)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000053921
HGF-Programm 43.22.03 (POF III, LK 01)
Printed Materials and Systems
Veranstaltung 49th Hawaii International Conference on System Sciences (HICSS-49), Kauai, Hawaii, January 5-8, 2016
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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