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Detection and visual inspection of highly obfuscated plagiarisms

Schmidt, Andreas; Bühler, Sören; Senger, Robert; Scholz, Steffen; Dickerhof, Markus



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Informatik (IAI)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1109/HICSS.2016.510
ISBN: 978-0-7695-5670-3
KITopen ID: 1000053923
HGF-Programm 43.22.03; LK 01
Erschienen in Proceedings of the 49th Annual Hawaii International Conference on System Sciences (HICSS-49), Kauai, Hawaii, January 5-8, 2016. Ed.: T.X. Bui
Verlag IEEE Computer Society, Los Alamitos (CA)
Seiten 4113-4122
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