Detection and visual inspection of highly obfuscated plagiarisms
Schmidt, Andreas
; Bühler, Sören; Senger, Robert; Scholz, Steffen
1; Dickerhof, Markus 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
; Bühler, Sören; Senger, Robert; Scholz, Steffen
1; Dickerhof, Markus 11 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Informatik (IAI) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2016 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-0-7695-5670-3 KITopen-ID: 1000053923 |
| HGF-Programm | 43.22.03 (POF III, LK 01) Printed Materials and Systems |
| Erschienen in | Proceedings of the 49th Annual Hawaii International Conference on System Sciences (HICSS-49), Kauai, Hawaii, January 5-8, 2016. Ed.: T.X. Bui |
| Verlag | IEEE Computer Society |
| Seiten | 4113-4122 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |