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Reliability characterization of a soot particle sensor in terms of stress- and electromigration in thin-film platinum

Rusanov, R.; Rank, H.; Fuchs, T.; Mueller-Fiedler, R.; Kraft, O. 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1007/s00542-015-2576-6
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Zitationen: 14
Web of Science
Zitationen: 12
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Zitationen: 14
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Werkstoff- und Biomechanik (IAM-WBM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0946-7076
KITopen-ID: 1000054273
HGF-Programm 43.22.01 (POF III, LK 01) Functionality by Design
Erschienen in Microsystem Technologies
Verlag Springer
Band 22
Heft 3
Seiten 481-493
Nachgewiesen in Scopus
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