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Charge collection studies in irradiated HV-CMOS particle detectors

Affolder, A.; Andelković, M.; Arndt, K.; Bates, R.; Blue, A.; Bortoletto, D.; Buttar, C.; Caragiulo, P.; Cindro, V.; Das, D.; Dopke, J.; Dragone, A.; Ehrler, F.; Fadeyev, V.; Galloway, Z.; Gorišek, A.; Grabas, H.; Gregor, I.M.; Grenier, P.; Grillo, A.; ... mehr



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1748-0221
KITopen ID: 1000055084
HGF-Programm 54.02.03; LK 01
Erschienen in Journal of Instrumentation
Band 11
Heft 4
Seiten Art. Nr. P04007
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