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Local Orientation Variations in YBCO Films on Technical Substrates-A Combined SEM and EBSD Study

Pahlke, P.; Sieger, M.; Chekhonin, P.; Skrotzki, W.; Hänisch, J. ORCID iD icon 1; Usoskin, A.; Stromer, J.; Schultz, L.; Huhne, R.
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Postprint §
DOI: 10.5445/IR/1000055365
Veröffentlicht am 21.03.2022
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TASC.2016.2535138
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Zitationen: 10
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Zitationen: 12
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1051-8223, 1558-2515
KITopen-ID: 1000055365
HGF-Programm 37.06.02 (POF III, LK 01) New Power Network Technology
Erschienen in IEEE transactions on applied superconductivity
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Band 26
Heft 3
Seiten 7420627
Nachgewiesen in Dimensions
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