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IR-spectrometer for beam monitoring: from pico- to femto-second acquisition?

Rota, L.; Caselle, M.; Hiller, N.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 1000055445
HGF-Programm 54.02.02; LK 01
Erschienen in 2nd General Meeting 'Matter and Technologies', Karlsruhe, March 8-10, 2016
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