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Critical current degradation of commercially avilable coated conductors due to short thermal loads

Preuß, Alan; Wolf, Michael J. ORCID iD icon; Fietz, Walter, H.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp Poster
Publikationsjahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000055522
HGF-Programm 37.06.02 (POF III, LK 01) New Power Network Technology
Veranstaltung Applied Superconductivity Conference (ASC 2016), Denver, CO, September 4-9, 2016
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