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Asymmetric skew X-ray diffraction at fixed incidence angle: application to semiconductor nano-objects

Grigoriev, Daniil A. 1,2; Lazarev, Sergey; Schroth, Philipp 1,2; Minkevich, Andrey A. 2; Köhl, Martin 2; Slobodskyy, Taras; Helfrich, Mathieu F. 3; Schaadt, Daniel M.; Aschenbrenner, Timo 2; Hommel, Detlef; Baumbach, Tilo 1,2,4
1 Laboratorium für Applikationen der Synchrotronstrahlung (LAS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
3 Center for Functional Nanostructures (CFN), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
4 ANKA - die Synchrotronstrahlungsquelle am KIT (ANKA), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1107/S1600576716006385
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Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS)
Laboratorium für Applikationen der Synchrotronstrahlung (LAS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0021-8898
KITopen-ID: 1000055863
HGF-Programm 56.03.20 (POF III, LK 01) Nanoscience a.Material f.Inform.Technol.
Erschienen in Journal of Applied Crystallography
Verlag International Union of Crystallography
Band 49
Heft Part 3
Seiten 961-967
Nachgewiesen in Web of Science
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Dimensions
Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung Ziel 11 – Nachhaltige Städte und Gemeinden
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