Test implications and challenges in near threshold computing: Special session
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2016 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-4673-8454-4 KITopen-ID: 1000056032 |
| Erschienen in | Proceedings of the 34th IEEE VLSI Test Symposium, VTS 2016; Las Vegas; United States; 25 April 2016 through 27 April 2016 |
| Verlag | IEEE Computer Society |
| Seiten | Art.Nr.: 7477295 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |