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Test implications and challenges in near threshold computing: Special session

Tahoori, Mehdi Baradaran; Aitken, Robert C.; Vangal, Sriram R.; Sandhu, Bal



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1109/VTS.2016.7477295
ISBN: 978-1-4673-8454-4
KITopen ID: 1000056032
Erschienen in Proceedings of the 34th IEEE VLSI Test Symposium, VTS 2016; Las Vegas; United States; 25 April 2016 through 27 April 2016
Verlag IEEE Computer Society, Los Almitos (CA)
Seiten Art.Nr.: 7477295
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